FTN でのエラー：Seal residual force limit exceeded (z-wash) (x.x)（シール残留力限度超過（z 洗浄）(x.x)） - WKB230730

症状

• FTN での「Seal residual force limit exceeded (z-wash)」（シール残留力限度超過（z 洗浄））エラー
• ニードルシールのキャラクタライズにより、「Z-axis calibration out of range」（Z 軸のキャリブレーションが範囲外です）エラーが発生する
• 洗浄ステーションを押し下げると、洗浄ステーションの下部にあるロードセルが圧力に反応し、ACQUITY コンソールのシール力の値の増加を示す
• ニードル洗浄ラインおよびパージラインには溶媒がある
• ニードルが曲がっていない
• コンソールログで「drawing sample rate excessive」（サンプルの吸引率の超過）という警告が断続的に表示される

環境

• ACQUITY APC Sample Manager - FTN
• ACQUITY UPLC サンプルマネージャ - フロースルーニードル PLUS (SM-FTN PLUS)
• ACQUITY UPLC H-Class
• ACQUITY UPLC H-Class PLUS
• ACQUITY UPLC H-Class PLUS Bio
• ACQUITY UPLC I-Class
• ACQUITY UPLC I-Class PLUS
• ACQUITY UPLC
• ACQUITY Premier

原因

インレットメソッドの［ニードル位置（底から）］設定が低すぎます（ニードルが底部まで突き出ています）。これにより、z ステップの喪失、断続的なニードルの詰まり、およびその他のエラーが発生します。

解決策

バイアルまたはプレートで底部に接触しないまで、ニードル位置をより高く調整します。既定のニードル位置（自動う）は 4 mm です。

追加情報